技術(shù)文章_第(15)頁－北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司

2022

2-11

成就客戶 | MaipSCAN&中國石油長城鉆探，驗(yàn)收工作穩(wěn)步進(jìn)行

2021年6月中旬，全新一代巖石屬性分析系統(tǒng)MaipSCAN順利落地中國石油長城鉆探工程有限公司，在錄井基地地質(zhì)檢測中心巖礦掃描室成功安裝調(diào)試。設(shè)備安裝現(xiàn)場現(xiàn)階段，設(shè)備驗(yàn)收工作穩(wěn)步進(jìn)行中，長城公司滿懷信心、翹首以待！驗(yàn)收工作分為重復(fù)性、穩(wěn)定性、平行性實(shí)驗(yàn)對比。重復(fù)性實(shí)驗(yàn)，取3塊具有代表性的巖心樣品，每個(gè)樣品重復(fù)測量10次；穩(wěn)定性實(shí)驗(yàn)，取3塊具有代表性的巖心樣品，在不同時(shí)間段分別測量5次。部分測試結(jié)果如下：重復(fù)性試驗(yàn)：Sample1，深度3683.50米，重復(fù)測量10次穩(wěn)定性試...

2022

1-7

場發(fā)射掃描電鏡的性能特點(diǎn)介紹，真的很全！

場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設(shè)計(jì)，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內(nèi)高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實(shí)現(xiàn)成像及分析性能。在原有性能基礎(chǔ)之上，進(jìn)一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設(shè)許多新功能提升其易用性。場發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術(shù)，不再需要用戶手動進(jìn)行調(diào)整操作，而且，F(xiàn)LASH自動執(zhí)行精細(xì)調(diào)節(jié)工作，只...

2022

1-4

可以實(shí)時(shí)檢測形貌與元素信息的“鎢燈絲掃描電鏡”

鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時(shí)可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實(shí)時(shí)定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導(dǎo)電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導(dǎo)電樣品進(jìn)行更真實(shí)的能譜元素分析。專為快速分析而設(shè)計(jì)，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準(zhǔn)確執(zhí)行故障分...

2021

12-6

專為快速分析而設(shè)計(jì)的“賽默飛電子顯微鏡”

賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進(jìn)行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統(tǒng)能譜會利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，因而數(shù)據(jù)獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數(shù)據(jù)所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應(yīng)脈沖整形技術(shù)，確保各種條件下均能獲得可靠數(shù)據(jù)。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分?jǐn)?shù)據(jù)可靠，且結(jié)果中不會出現(xiàn)重疊峰誤判等。專有的陰...

2021

12-3

掃描電鏡顯微鏡在不同行業(yè)中的應(yīng)用

由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學(xué)物質(zhì)進(jìn)行非常詳細(xì)的分析。它打破了傳統(tǒng)臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術(shù)，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎(chǔ)成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。在檢查半導(dǎo)體和微電子器件時(shí)，需要靈活選擇和使用操作參數(shù)(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時(shí)間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環(huán)境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導(dǎo)致器...

2021

11-12

看看這些內(nèi)容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？

STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關(guān)物質(zhì)表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結(jié)構(gòu)信息，特征X-射線得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時(shí)，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM...

2021

11-9

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？

環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，試樣制備簡單。它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。環(huán)境掃描電鏡的應(yīng)用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納...

2021

11-5

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？

隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術(shù)利用高強(qiáng)度聚焦離子束對材料進(jìn)行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實(shí)時(shí)觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態(tài)金屬離子源及離子引出極、預(yù)聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測器、可移動的樣品基座...

2021

11-2

一文帶你認(rèn)識球差電鏡！

球差電鏡，什么是球差？球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強(qiáng)中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個(gè)焦點(diǎn)的缺點(diǎn)，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。球差電鏡，球差是由什么產(chǎn)生的？TEM中包含多個(gè)磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由...

2021

10-21

高分辨率掃描電鏡的檢測范圍和基本構(gòu)造

高分辨率掃描電鏡是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析，是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場發(fā)射三種，場發(fā)射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化鑭，具有電子束斑小、高分辨率、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。高分辨率掃描電鏡的檢測范圍：1.金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導(dǎo)體、紙張、化工產(chǎn)品的顯微形貌觀察及...

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